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紫外可見近紅外分光光度計（UV-VIS-NIR）

簡要描述：TP720型紫外可見近紅外分光光度計（UV-VIS-NIR）可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍，實現UV-Vis-NIR波段連續掃描，其應用領域廣泛，可測量固體／液體樣本在紫外-可見-近紅外范圍內的特征吸收；可研究玻璃鍍膜樣品吸收／透射或反射光譜；可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區的吸收譜圖，適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業，是功能Z強勁的光譜分析儀器。

產品型號：TP720型
廠商性質：生產廠家
更新日期：2024-12-18
訪問量：44428

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近紅外、紫外可見近紅外

紫外可見近紅外

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詳細介紹

品牌	TP/拓普	儀器種類	實驗室級別
測樣方式	透過率、吸光度、反射率、能量	數據采樣間隔	2次/秒
波長范圍	190-2800nm	儀器原理	光柵掃描型
價格區間	10萬-15萬	應用領域	地礦,建材/家具,電子/電池,綜合

TP720型紫外可見近紅外分光光度計（UV-VIS-NIR）儀器特點：

　　1. 采用經典的Czerny-Turner光學結構，其結構簡單、精度高、光譜分辨率良好；

　　2. 采用雙光柵、雙接收器的設計，保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區(UV-VIS-NIR)全波段的優勢；

　　3. 接收器件均為進口器件，保證了儀器的高性能和穩定度；

　　4. 儀器的控制(如光柵轉換、濾光片轉換、接收器轉換、波長掃描等)全部由計算機控制，接口為 USB2.0，儀器的連接簡單，提高了通訊速率；

　　5. 狹縫寬度7檔可選，分別是(0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm)。用戶可根據實際需要任意選擇。

　　6. 全中文操作軟件，功能選擇簡單、易懂。

　　TP720型紫外可見近紅外分光光度計（UV-VIS-NIR）規格參數：

工作波長范圍	190-2800nm
掃描方式	透過率、吸光度、反射率、能量
波長準確度	±0.5nm（UV/VIS）;±8nm（NIR）
波長重復性	0.3nm(UV/VIS)； ±4nm（NIR）
采樣間隔	0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm
光度范圍	0.300～2.5A
光度準確度	±0.3%T（0-100%T）
光度重復性	0.2%T
基線平直度	±0.008A（200-2500nm，預熱30分鐘后）
光譜帶寬	0.2nm-10nm
雜散光	≤0.2%T（220nm）
外形尺寸	830600260mm