TPY-1型天津拓普橢圓偏振測(cè)厚儀
更新日期:2024-12-18
型號(hào):TPY-1型
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近代科學(xué)技術(shù)的許多領(lǐng)域中對(duì)各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛。因此,更加精確和迅速的測(cè)定給定薄膜的光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實(shí)際工作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測(cè)定光學(xué)參數(shù),如:布儒斯特角法測(cè)介質(zhì)膜的折射率,干涉法測(cè)膜厚,其它測(cè)膜厚的方法還有稱(chēng)重法、X射線(xiàn)法、電容法、橢偏法等。
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